FCP-01型單片機開發(fa)應用技術綜合實(shi)驗(yan)裝置
| 1．存儲器塊清零 2．二進制到BCD碼轉換 3．二進制到ASCII碼轉換 4．程序跳轉表 5．內存塊移動 6．數據排序 7．P1口輸入、輸出實驗 8．繼電器控制實驗 9．用74LS244讀入數據 10．用74LS273輸出數據 11．串行數據轉換并行數據 12．并行數據轉換串行數據 13．PWM轉換電壓實驗 14．音頻控制實驗 15．8255輸入、輸出實驗 16．8155輸入、輸出實驗 17．5LED靜態串行顯示實驗 18．6LED動態掃描顯示實驗 19．查詢式鍵盤實驗 20．陣列式鍵盤實驗 21．計數器實驗 22．定時器實驗 23．8253定時器實驗 24．外部中斷實驗 25．串行口通訊實驗 26．ADC0809模數轉換實驗 27．DAC0832數模轉換實驗 28．MC14433模數轉換實驗 29．EEPROM外部數據程序存儲器實驗 30．SRAM外部數據存儲器擴展實驗 31．93C46串行EEPROM數據讀寫實驗 | 32．電子時鐘實驗 33．電子琴模擬實驗 34．打印機控制實驗 35．汽車轉彎信號燈控制實驗 36．溫度傳感器溫度控制實驗 37．溫度過程控制模擬實驗 38．五相步進電機模擬實驗 39．計算器實驗 40．數字頻率計實驗 41．V/F轉換實驗 42．F/V轉換實驗 43．LED點陣顯示實驗 44．字符液晶顯示屏控制實驗 45．8279鍵盤掃描顯示實驗 46．看門狗實驗 47．8251串行口擴展通訊實驗 48．I2C總線讀寫實驗 49．RS232轉RS485實驗 50．USB接口實驗 51．十字路口交通燈控制實驗 52．五功能邏輯筆實驗 53．直流電機驅動調速實驗（實物） 54．步進電機驅動實驗（實物） 55．IC卡讀寫實驗 56．實時時鐘/日歷控制實驗 57．語音芯片控制實驗 58．單片機與CPLD實驗 59．8051與PC機(ji)串行口通訊實驗 60．Flash Rom外部程序存儲(chu)器實驗 61．多功能(neng)密碼鎖實驗 |
